西安電子科技大學(xué)與美國國家儀器公司（NI）宣布聯(lián)合成立“西安電子科大-NI微電子測試國際合作聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”。該實(shí)驗(yàn)室旨在深化微電子測試領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新，推動(dòng)產(chǎn)學(xué)研深度融合，聚焦先進(jìn)測試方法、半導(dǎo)體器件特性分析及自動(dòng)化測試系統(tǒng)開發(fā)等核心方向。作為國際合作的重要平臺(tái)，實(shí)驗(yàn)室不僅將開展前沿技術(shù)咨詢，還定期舉辦學(xué)術(shù)研討會(huì)和主題技術(shù)交流活動(dòng)，促進(jìn)跨學(xué)科團(tuán)隊(duì)協(xié)作，以解決行業(yè)核心瓶頸問題。這一舉措有望加速科技成果轉(zhuǎn)化，促進(jìn)高校研究成果工程化落地，并為企業(yè)帶來更具競爭力的測試解決方案，為中國的微電子產(chǎn)業(yè)升級與全球智能化測試技術(shù)發(fā)展注入新動(dòng)能。